Misurazione dello spessore ND1 con incastellatura a O

Informazioni sul prodotto

  • Misurazione dello spessore online e senza contatto per nastri di materiale
  • Rilevamento preciso dello spessore del nastro con tecnologia di triangolazione laser, tecnologia dei sensori confocale cromatica o interferometrica
  • Riduzione di scarti e massima sicurezza della qualità
  • Dilatazione termica e sensibilità alle vibrazioni ridotte al minimo grazie all'impiego di telai di granito
  • Possibilità di posizionamento dei sensori manuale o motorizzato
Larghezza del profilofino a 4000 mm
Campo di misurazione sensori a triangolazione laserfino a 78 mm
Precisione± 10 μm
Campo di misurazione sensori confocali cromaticifino a 4 mm (scalabile a piacere per il riposizionamento verticale dei sensori)
Precisionefino a ± 5 μm
Campo di misurazione sensori interferometricifino a 8 mm (scalabile a piacere per il riposizionamento verticale dei sensori)
Precisionefino a ± 5 μm (con spessori degli strati <0,5 μm)
Capacità delle apparecchiature di misura (Cg&Cgk): [TW* = 10 x precisione] ≥1,67
Sensoretriangolazione laser, cromatico-confocale, interferometrico
Punti di misurazione 1
Frequenza di scansionea seconda della tecnologia dei sensori
Classe laser 2 (non occorre designare un responsabile della protezione laser)
Risoluzione dello spessore del profilo<0,01 μm
Risoluzione indicata1 μm / 0,01 per cromatico-confocale / interferometerico
Umidità atmosferica relativadal 15 al 95 % (non condensante)
Temperatura ambienteda +10 a +50°C
Tensione di esercizioda 120 a 230 V, 50/60 Hz, 16 A
Grado di protezioneIP 54

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